LED燈具的光衰，即光輸出隨著時間逐漸降低的現(xiàn)象，是影響其使用壽命和性能的關(guān)鍵因素。
    一、光衰主要由以下兩大因素引起：
    1、LED產(chǎn)品本身的品質(zhì)問題：
芯片質(zhì)量：如果使用的LED芯片質(zhì)量不佳，可能會導(dǎo)致亮度衰減速度加快。
生產(chǎn)工藝缺陷：LED芯片的散熱設(shè)計不良，例如無法有效將熱量從PIN腳導(dǎo)出，可能導(dǎo)致芯片溫度過高，從而加速光衰過程。
    2、使用條件問題：
驅(qū)動方式不當(dāng)：LED應(yīng)使用恒流驅(qū)動，如果錯誤地采用電壓驅(qū)動，可能會導(dǎo)致LED光衰。
超出額定電流：如果驅(qū)動電流超過LED的額定條件，將增加LED的熱負(fù)荷，加速光衰。
實(shí)際上，導(dǎo)致LED產(chǎn)品光衰的原因多種多樣，但最核心的問題仍然是熱量管理。雖然一些制造商可能不會在次級產(chǎn)品上過分關(guān)注散熱設(shè)計，但這些產(chǎn)品在長期使用中，由于熱量積累，光衰程度往往比注重散熱設(shè)計的LED產(chǎn)品要高。以下是與LED光衰相關(guān)的一些關(guān)鍵因素：
LED芯片的熱阻：熱阻較低的芯片更有利于熱量的散發(fā)，減緩光衰。
銀膠的影響：銀膠作為芯片與基板之間的粘合劑，其熱導(dǎo)性能影響熱量的傳遞。
基板的散熱效果：基板材料和設(shè)計對LED的散熱至關(guān)重要，影響整體的熱性能。
封裝膠體和金線：封裝膠體的熱穩(wěn)定性和金線的電氣及熱性能也與LED的光衰密切相關(guān)。
    二、光衰分析
    大多數(shù)白色LED是由藍(lán)色LED照射黃色熒光粉而得到的。引起LED光衰的主要原因有兩個，一個是藍(lán)光LED本身的光衰，藍(lán)光LED的光衰遠(yuǎn)比紅光、黃光、綠光LED要快。還有一個是熒光粉的光衰，熒光粉在高溫下的衰減十分嚴(yán)重。各種品牌的LED它的光衰是不同的。通常LED的廠家能夠給出一套標(biāo)準(zhǔn)的光衰曲線來。例如美國Cree公司的光衰曲線就如圖1所示。
圖片

    從圖中可以看出，LED的光衰是和它的結(jié)溫有關(guān)，所謂結(jié)溫就是半導(dǎo)體PN結(jié)的溫度，結(jié)溫越高越早出現(xiàn)光衰，也就是壽命越短。
    從圖上可以看出，假如結(jié)溫為105度，亮度降至70%的壽命只有一萬多小時，95度就有2萬小時，而結(jié)溫降低到75度，壽命就有5萬小時，65度時更可以延長至9萬小時。所以延長壽命的關(guān)鍵就是要降低結(jié)溫。不過這些數(shù)據(jù)只適合于Cree的LED。并不適合于其他公司的LED。例如Lumiled公司的LuxeonK2的光衰曲線就如圖2所示。

    IES測試，即照明工程協(xié)會(Illuminating Engineering Society)測試，是一種標(biāo)準(zhǔn)化的測試方法，用于評估照明產(chǎn)品的光度和電度性能。以下是IES測試的主要內(nèi)容和方法：
測試目的：IES測試用于評估照明產(chǎn)品的光效、光通量、功率因數(shù)(PF)、額定光通量等關(guān)鍵性能指標(biāo)。
配光曲線測試：配光曲線測試是測量光源或燈具在空間中不同方向的光強(qiáng)分布情況。
表示方法：配光曲線的表示方法主要有三種：極坐標(biāo)法、直角坐標(biāo)法和等光強(qiáng)曲線法。這些方法可以直觀地展示燈具的光線分布特性。
    IES測試為照明產(chǎn)品的評估和選擇提供了一套科學(xué)、全面的標(biāo)準(zhǔn)，有助于用戶了解產(chǎn)品的性能，進(jìn)行合理的照明設(shè)計和選擇。通過這些詳細(xì)的測試結(jié)果，可以確保照明系統(tǒng)既滿足視覺舒適性，又具有高效率和經(jīng)濟(jì)性。